一、進行高頻測量時更改繞組匝數后，為什么鐵芯損耗測量值會出現差異？

      產生差異的原因之一可能是受到了LC并聯諧振現象的影響。諧振頻率根據繞組匝數而變化。如果檢測電壓、檢測電流均在B-H分析儀的可測量范圍即可執行鐵芯損耗測量，但B-H分析儀的輸入電容C與試樣的電感L會形成LC并聯諧振電路，所以在執行高頻測量時需注意。使用時，請確保測量頻率在諧振頻率的1/10以下。諧振頻率fc可通過以下公式進行計算。

      L：試樣的電感　C：B-H分析儀的輸入電容（SY-8218 / SY-8219約為18.5pF） N1：1次繞組匝數　N2：2次繞組匝數　

      此外，如果是高相位角(≧約87°)的試樣，其諧振影響將會變大，測量高相位角的試樣時，建議以諧振頻率1/20以下的頻率執行測量。
      原因之二可能是受到了試樣內部磁場(的強度)、或磁通密度B的不均衡影響。試樣磁導率較低、形狀非環形、或繞組不均衡時，試樣內部的H、B的大小大多會根據試樣的位置而異。更改繞組匝數后，H的平均勵磁位置、或B的平均檢測位置會發生變化，從而使鐵芯損耗產生差異。

二、B-H分析儀測量線圈時繞組匝數和合理繞組方式

（1）適合測量的繞組匝數是多少？

推薦繞組匝數如下所示。
勵磁線圈N1：3圈以上
檢測線圈N2：1圈以上且N1≧N2

N1較少時所需磁場(的強度)則需要更大的電流，N2較多時檢測到的感應電壓會增加。 此外，N1。

（2）試樣線圈的合理繞組方式是什么？

      線圈應盡可能按相同間隔繞于試樣上，以確保磁芯內的磁場(的強度)達到均衡、或磁通密度的檢測部位不會發生偏移。尤其是檢測線圈，應貼合試樣進行繞線，以確保無效磁通不會在檢測線圈與磁芯之間的空隙中發生鎖交。勵磁線圈與檢測線圈重疊時，先繞至檢測線圈使其與試樣貼合。勵磁線圈與檢測線圈的繞組匝數相同時，建議采用雙線繞組的方式。雙線繞組是指1次繞組(勵磁線圈)和2次繞組(檢測線圈)配套繞組，與分別各自繞組相比可減少漏磁通，改善1次～2次之間的耦合系數。

【參照】雙線繞組

三、通過正弦波勵磁使Bm的值增大后，測得的電流、或電壓波形不是正弦波形而且失真的原因

波形失真現象是試樣的特性。相對磁場(的強度)H的磁通密度B的大小會發生非線形變化所致。尤其是接近試樣的飽和磁通密度后，波形失真會更加明顯。

四、B-H分析儀測量時，鐵芯損耗等測量值發生大幅度變化的原因

軟磁性體一般均具有溫度特性。尤其是鐵氧體在接近室溫時的磁力特性不穩定。B-H分析儀想要正確執行軟磁性體的磁力特性測量時，需通過恒溫箱使試樣保持一定溫度的狀態下執行測量。

      此外，根據不同的材料，磁力特性有時會因勵磁時間及勵磁歷史而發生變化，與試樣溫度無關。追加選配件的連續測量功能SY-811后，可觀測MAX 99,999min(約70天)的磁力特性每1[min]的時間變化。如果磁力特性在每次測量時都會發生較大變化，則建議通過SY-811執行連續測量，確認磁力特性是否會因勵磁時間而發生時間變化。